洞見最真實的信號
采用獨家 SigOFIT?光纖隔離技術，擁有極高的共模抑制
比和隔離電壓，在其帶寬范圍內洞見信號的全部真相，是
判定其他電壓探頭所測信號真實性的終極裁判。
帶寬：DC-1GHz 共模電壓：60kVpk
精度：1% 共模抑制比 ：高達160dB
最真實的信號呈現
由于具有極高的共模抑制比和隔離電壓、全量程范圍內最大1.41mVrms底噪、優于1% 的測量精度，OIP系列光隔離探頭在帶寬和精度范圍內能最真實地呈現信號全部特征，是判定其他電壓探頭所測信號真實性的終極裁判。
第三代半導體的最佳測試手段
第三代半導體器件由于導通與關斷時間很短，信號具有更快的上升沿和下降沿，信號中具有很高能量的高頻諧波，OIP系列光隔離探頭在最高帶寬時，仍然具有近100dB的共模抑制比，可以近乎完美地抑制高頻共模噪聲所產生的震蕩，所呈現的信號沒有額外多余成分，是第三代半導體測試的不二之選。
測試氮化鎵（GaN）不炸管
OIP系列光隔離探頭測試引線短且采用同軸傳輸，探頭輸入電容小于3pF，測試氮化鎵（GaN）十分安全（當器件工作參數已經處于炸管臨界狀態時，接上測試設備會多出近3pF電容，不能保證絕對安全）。
使用靈活
OIP系列光隔離探頭比傳統高壓差分探頭體積更小，探頭引線更精巧，使用更加靈活方便。
測試量程更寬
不同于高壓差分探頭只可以測試高壓信號，OIP系列光隔離探頭匹配不同的衰減器，可以測試±2.5V至±2500V的差模信號，并實現滿量程輸出，達到很高的信噪比。
高效便捷
OIP系列光隔離探頭響應快，上電即測，無需預熱等待，校準時間小于1秒，可實時保證精確的信號輸出。
應用場景
對其他電壓探頭所測結果準確性、真實性存在質疑時，OIP系列光隔離探頭可作為最終裁判依據。
電源設備評估、電流并聯測量、EMI 和 ESD 故障排除
電機驅動設計、功率轉換器設計 、電子鎮流器設計
氮化鎵、碳化硅、IGBT半/全橋設備的設計與分析
高壓高帶寬測試應用的安全隔離測試
逆變器、UPS及開關電源的測試
寬電壓、寬帶測試應用
各種浮地測試
最真實的信號呈現
由于具有極高的共模抑制比和隔離電壓、全量程范圍內最大1.41mVrms底噪、優于1% 的測量精度，OIP系列光隔離探頭在帶寬和精度范圍內能最真實地呈現信號全部特征，是判定其他電壓探頭所測信號真實性的終極裁判。
第三代半導體的最佳測試手段
第三代半導體器件由于導通與關斷時間很短，信號具有更快的上升沿和下降沿，信號中具有很高能量的高頻諧波，OIP系列光隔離探頭在最高帶寬時，仍然具有近100dB的共模抑制比，可以近乎完美地抑制高頻共模噪聲所產生的震蕩，所呈現的信號沒有額外多余成分，是第三代半導體測試的不二之選。
測試氮化鎵（GaN）不炸管
OIP系列光隔離探頭測試引線短且采用同軸傳輸，探頭輸入電容小于3pF，測試氮化鎵（GaN）十分安全（當器件工作參數已經處于炸管臨界狀態時，接上測試設備會多出近3pF電容，不能保證絕對安全）。
使用靈活
OIP系列光隔離探頭比傳統高壓差分探頭體積更小，探頭引線更精巧，使用更加靈活方便。
測試量程更寬
不同于高壓差分探頭只可以測試高壓信號，OIP系列光隔離探頭匹配不同的衰減器，可以測試±2.5V至±2500V的差模信號，并實現滿量程輸出，達到很高的信噪比。
高效便捷
OIP系列光隔離探頭響應快，上電即測，無需預熱等待，校準時間小于1秒，可實時保證精確的信號輸出。
應用場景
對其他電壓探頭所測結果準確性、真實性存在質疑時，OIP系列光隔離探頭可作為最終裁判依據，尤其是下列技術領域：
氮化鎵、碳化硅、IGBT半/全橋設備的設計與分析
逆變器、UPS及開關電源的測試
高壓高帶寬測試應用的安全隔離測試
寬電壓、寬帶測試應用
各種浮地測試
電機驅動設計、功率轉換器設計 、電子鎮流器設計
電源設備評估、電流并聯測量、EMI 和 ESD 故障排除
產品參數表
產品參數表
